振動(dòng)試驗(yàn)是力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)中比較普通的測(cè)試類型，振動(dòng)試驗(yàn)主要考核產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)及電路板的搭接設(shè)計(jì)是否符合最初設(shè)計(jì)的指標(biāo)，貴司的產(chǎn)品是否經(jīng)受過(guò)高量級(jí)的振動(dòng)試驗(yàn)，該產(chǎn)品是否能夠在振動(dòng)環(huán)境條件下不受影響，產(chǎn)品的振動(dòng)試驗(yàn)是非常有必要做的，目前整個(gè)產(chǎn)品的環(huán)境的復(fù)雜性，對(duì)產(chǎn)品的高可靠性提出更高的要求，產(chǎn)品需要經(jīng)歷一系列的環(huán)境試驗(yàn)后才能證明其可靠性程度。
因?yàn)槿魏萎a(chǎn)品在運(yùn)送、使用、保存、中會(huì)產(chǎn)生碰撞、振動(dòng),使產(chǎn)品在某一段時(shí)間產(chǎn)生不良，嚴(yán)重影響產(chǎn)品的使用和不必要的經(jīng)濟(jì)損失，為了避免這事態(tài)的發(fā)生我們就要提早知道產(chǎn)品或產(chǎn)品中的部件的耐振壽命。
1、結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度。
2、結(jié)合物的松脫。
3、保護(hù)材料的磨損。
4、零部件的破損。
5、電子組件的接觸不良。
6、電路短路及斷續(xù)不穩(wěn)。
7、各零件之標(biāo)準(zhǔn)值偏移。
8、提早將不良件篩檢。
9、找尋零件、結(jié)構(gòu)、包裝與運(yùn)送過(guò)程間之共振關(guān)系。
列舉一個(gè)常規(guī)的測(cè)試方案，僅供參考：
1、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)：10Hz~200Hz,加速度譜密度0.5（m/s2）2/Hz; 200Hz~500Hz,加速度譜密度1.0（m/s2）2/Hz; 振動(dòng)三個(gè)相互垂直的方向，每方向振動(dòng)1小時(shí)；
2、正弦振動(dòng)試驗(yàn)：10Hz~2000Hz，掃頻速率1oct/min,加速度20m/s2,每個(gè)方向循環(huán)掃頻10次循環(huán)，掃頻振動(dòng)三個(gè)相互垂直的方向；
GB/T 2423.56-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則
GB/T 2423.10-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）
GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
GJB150.16-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 振動(dòng)試驗(yàn)》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法214隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)
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GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.38 振動(dòng)
GJB4.7-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 振動(dòng)試驗(yàn)》
GJB548A-96 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
正弦振動(dòng)試驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)后外觀結(jié)構(gòu)應(yīng)無(wú)損害，產(chǎn)品上電應(yīng)能工作正常。
